Número do Padrão: SJ/T 2658.9-2015(SJ/T2658.9-2015)
Chinês:半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
Português:Métodos de medição para díodos emissores de infravermelhos semicondutores – Parte 9: Distribuição espacial da intensidade de radiação e do ângulo de meia-intensidade
Data de Vigência:2016-04-01
Âmbito padrão:
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