Número do Padrão: SJ/T 2658.2-2015(SJ/T2658.2-2015)
Chinês:半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压
Português:Métodos de medição para díodos emissores de infravermelhos semicondutores – Parte 2: Tensão de avanço
Data de Vigência:2016-04-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
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