Número do Padrão: SJ/T 2658.15-2016(SJ/T2658.15-2016)
Chinês:半导体红外发射二极管测量方法 第15部分：热阻
Português:Métodos de medição para díodos emissores de infravermelhos semicondutores – Parte 15: Resistência térmica
Data de Vigência:2016-06-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
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