Número do Padrão: SJ/T 11706-2018(SJ/T11706-2018)
Chinês:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
Português:Métodos de Ensaio de Matrizes de Portas Programáveis em Campo de Circuitos Integrados de Semicondutores
Data de Vigência:2018-04-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
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