Número do Padrão: SJ/T 11212-1999(SJ/T11212-1999)
Chinês:石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
Português:Medição dos parâmetros dos componentes dos cristais de quartzo – Parte 6: Medição da dependência do nível de excitação (DLD)
Data de Vigência:1999-12-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
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