Número do Padrão: JR/T 0045.3-2014(JR/T0045.3-2014)
Chinês:中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第3部分：借记/贷记应用个人化检测规范
Português:China Financial Integrated Circuit (IC) Card Testing Specification – Part 3: Debit/Credit Application Personalisation Testing Specification (Especificação de ensaio de personalização de aplicações de débito/crédito)
Data de Vigência:2014-07-30
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: Y
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