Número do Padrão: YS/T 644-2007(YS/T644-2007)
Chinês:铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
Português:Método de película fina para ligas de platina-ruténio Espectrometria de fotoelectrões de raios X Determinação do teor de platina e ruténio ligados
Data de Vigência:2007-10-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
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