Número do Padrão: SN/T 5499-2023(SN/T5499-2023)
Chinês:矿产品中滑石含量的测定 X射线衍射全谱拟合法
Português:Determinação do teor de talco em produtos minerais Método de mapeamento de espetro total por difração de raios X
Data de Vigência:2023-12-01
Âmbito padrão:
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