Número do Padrão: SJ/T 11210-1999(SJ/T11210-1999)
Chinês:石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
Português:Medição dos parâmetros de elementos de cristais de quartzo – Parte 4: Método de medição da frequência de ressonância de carga fL e da resistência de ressonância de carga RL de elementos de cristais de quartzo até 30MHz e cálculo de outros parâmetros derivados
Data de Vigência:1999-12-01
Âmbito padrão:
Descarregável em PDF: N
Você pode clicar no botão abaixo para comprar a versão em PDF, e nós a enviaremos por e-mail.Clique abaixo para comprar a versão impressa. Enviado via FedEx em 7 dias. Reembolso total se estiver fora de estoque.
Se encontrar os seguintes problemas, por favor clique aqui para nos contatar, faremos o nosso melhor para ajudá-lo.
1. Não consegue encontrar o documento padrão que procura no nosso site.
2. Encontrou o documento padrão, mas a nossa página indica que o download em PDF não está disponível.
3. Precisa comprar a nossa versão traduzida.
