Número do Padrão: JY/T 0588-2020(JY/T0588-2020)
Chinês:单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
Português:Princípios Gerais dos Métodos Analíticos para a Determinação das Estruturas Cristalinas e Moleculares de Compostos de Pequenas Moléculas por Difractometria de Raios X de Cristal Único
Data de Vigência:2020-12-01
Âmbito padrão:
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