GB/T 4937.3-2012 Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaio mecânicos e climáticos – Parte 3: Exame visual exterior

Número do Padrão: GB/T 4937.3-2012
Chinês:半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
Português:Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaio mecânicos e climáticos – Parte 3: Exame visual exterior

Data de Vigência:2013-02-15
Autoridade Reguladora:Ministério da Indústria e das Tecnologias da Informação（电子）
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China,中国Administração Nacional de Normalização da China

Cumpre com normas internacionais:Y
Descarregável em PDF:N

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