Número do Padrão: GB/T 41064-2021
Chinês:表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
Português:Análise química de superfícies – Perfil de profundidade – Método para a determinação da taxa de pulverização em espetroscopia de fotoelectrões de raios X, espetroscopia de electrões Auger e espetrometria de massa de iões secundários – Perfil de profundidade de pulverização utilizando películas finas de camada única e multicamadas
Data de Vigência:2022-07-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Estatal de Supervisão e Administração do Mercado,中国Administração Nacional de Normalização da China
Cumpre com normas internacionais:Y
Descarregável em PDF:N
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