Número do Padrão: GB/T 33922-2017
Chinês:MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
Português:Métodos de ensaio a nível de bolacha para o desempenho de matrizes MEMS piezoresistivas sensíveis à pressão
Data de Vigência:2018-02-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China,中国Administração Nacional de Normalização da China
Cumpre com normas internacionais:N
Descarregável em PDF:Y
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