Número do Padrão: GB/T 30701-2014
Chinês:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
Português:Análise química de superfícies – Métodos químicos para a recolha de elementos da superfície de materiais de referência de trabalho de wafers de silício e sua determinação por espetroscopia de fluorescência de raios X de reflexão total (TXRF)
Data de Vigência:2014-12-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China,中国Administração Nacional de Normalização da China
Cumpre com normas internacionais:Y
Descarregável em PDF:N
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