GB/T 22572-2008 Análise química de superfícies – Espectrometria de massa de iões secundários – Método para estimar os parâmetros de resolução em profundidade com materiais de referência de camadas delta múltiplas

Número do Padrão: GB/T 22572-2008
Chinês:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
Português:Análise química de superfícies – Espectrometria de massa de iões secundários – Método para estimar os parâmetros de resolução em profundidade com materiais de referência de camadas delta múltiplas

Data de Vigência:2009-10-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China,中国Administração Nacional de Normalização da China

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