Número do Padrão: GB/T 20724-2021
Chinês:微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Português:Análise de microfeixes – Método de medição da espessura de cristais finos por difração eletrónica de feixe convergente
Data de Vigência:2022-07-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Estatal de Supervisão e Administração do Mercado,中国Administração Nacional de Normalização da China
Cumpre com normas internacionais:N
Descarregável em PDF:Y
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