GB/T 20176-2006 Análise química de superfícies-Espectrometria de massa de iões secundários-Determinação da concentração atómica de boro no silício utilizando materiais uniformemente dopados

Número do Padrão: GB/T 20176-2006
Chinês:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
Português:Análise química de superfícies-Espectrometria de massa de iões secundários-Determinação da concentração atómica de boro no silício utilizando materiais uniformemente dopados

Data de Vigência:2006-11-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China,中国Administração Nacional de Normalização da China

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