GB/T 15653-1995 Métodos de medição para sensores de gás de semicondutores de óxido metálico

Número do Padrão: GB/T 15653-1995
Chinês:金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Português:Métodos de medição para sensores de gás de semicondutores de óxido metálico

Data de Vigência:1996-04-01
Autoridade Reguladora:Ministério da Indústria e das Tecnologias da Informação（电子）
Autoridade Reguladora Emissora:Gabinete Estatal de Supervisão Técnica

Cumpre com normas internacionais:N
Descarregável em PDF:Y

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