Número do Padrão: GB/T 14031-1992
Chinês:半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
Português:Princípios gerais dos métodos de medição do ciclo de fase analógico para circuitos integrados de semicondutores
Data de Vigência:1993-08-01
Autoridade Reguladora:Ministério da Indústria e das Tecnologias da Informação(电子)
Autoridade Reguladora Emissora:Gabinete Estatal de Supervisão Técnica
Cumpre com normas internacionais:N
Descarregável em PDF:Y
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