GB/T 11685-2003 Procedimentos de medição para o sistema detetor de raios X de semicondutores e espectrómetros de energia de raios X de semicondutores

Número do Padrão: GB/T 11685-2003
Chinês:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Português:Procedimentos de medição para o sistema detetor de raios X de semicondutores e espectrómetros de energia de raios X de semicondutores

Data de Vigência:2004-01-01
Autoridade Reguladora:Administração Nacional de Normalização da China
Autoridade Reguladora Emissora:Administração Geral de Supervisão da Qualidade, Inspeção e Quarentena da República Popular da China

Cumpre com normas internacionais:Y
Descarregável em PDF:N

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