Número do Padrão: EJ/T 1184-2005(EJ/T1184-2005)
Chinês:贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
Português:Determinação espectrofotométrica de vestígios de silício em tetrafluoreto de urânio empobrecido
Data de Vigência:2005-07-01
Âmbito padrão:
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