CY/T 190-2019 Requisitos de controlo do processo de impressão em offset de cartão revestido e métodos de inspeção

Número do Padrão: CY/T 190-2019(CY/T190-2019)
Chinês:涂布纸板胶印过程控制要求及检验方法
Português:Requisitos de controlo do processo de impressão em offset de cartão revestido e métodos de inspeção

Data de Vigência:2020-01-01
Âmbito padrão:Esta norma especifica o controlo do processo de impressão em offset de cartão revestido envolvido na terminologia e definições, requisitos materiais, requisitos de controlo do processo e métodos de inspeção, aplicáveis ao cartão branco revestido, cartão branco revestido, cartão branco revestido, cartão branco com fundo cinzento revestido como substrato para o controlo do processo de impressão em offset.

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